真空质量比较仪
货号: | CCL1007 | 品牌: | 赛多利斯 | 产地: | 德国 | 天平类别: | 其他天平 | 天平量程: | 1.031 kg | 天平精度: | 0.1μg | 可读性: | 0.1μg | 重复性: | 0.1μg |
产品介绍
赛多利斯掌握着称量的核心规则,并为质量计量设定了新标准。与国际计量局,以及IImenau技术大学的过程测试与传感器技术学院一起,赛多利斯开发了CCL1007质量比较仪,即使在真空状态下也能测定1kg以下砝码的质量差异,精度达到0.1μg。 ·铝制稳压真空室保护比较仪不受环境因素影响。 ·独特的三支点支架不但能够取放圆柱形砝码,还能方便地取放硅球。 ·称量室在真空室的上部,用于配衡砝码的秤盘可通过上加载口进行取放。 ·马达的驱动力通过旋转轴和真空联结器传送到真空室内部。加载装置则由滑轮提升系统驱动。 ·真空室内的所有元件都能抗高真空,不会再真空状态下释气,避免污染砝码。 ·20多个真空法兰的使用使真空室中可以放置附加传感器,也就有足够空间容纳附加的测量仪器。 ·可兼容打印机和PC 最大量程 | 1.031 kg | 可读性 | 0.1 μg | 重复性(典型),s | 0.1 μg | 应用区域 | 1 mg - 1 kg | 重复性 | 0.2 μg | 真空条件下的重复性 | 0.1 μg | 电子称量&去皮范围 | 2 g | 线性 | 1 μg | 偏载误差 | 0 μg | 局部示值灵敏度 | 0.2 μg / 500 mg | 加载装置 | 8 | 典型稳定时间 | 80 s | ABBA循环 | 480 s | 压力范围 | 10E-6 1,000 mbar | 对中装置 | 是 | 控制元件 | 是 | PC软件 | 是 | 称盘直径 | 50 mm | 样品尺寸(WxD) | 34 - 95 × 110 mm | 硅球直径范围 | 45 - 100 mm | 氦泄漏 | < 10E-7 (mbar*l)/s |
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赛多利斯(SARTORIUS)仪器
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