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HemiView数字植物冠层分析系统
![]() 产品介绍
用途:HemiView数字植物冠层分析系统通过处理影像数据文件来获取与冠层结构有关的,例如叶面积指数、光照间隙及间隙分布状况。通过分析辐射数据的相关信息,能够测算出冠层截获的PAR以及冠层下方的辐射水平。其软件可以计算辐射指标、冠层指标、测量地点的光线覆盖状况及直射与漫射光的分布等。
技术规格:
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北京渠道科学仪器有限公司
电话: 010-62111044 联系人: 夔先生 邮编: 100098 地址: 大钟寺13号华杰大厦7B15 相关产品:
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